天平專(zhuān)家通用型分析天平日本AND艾安得

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
天平專(zhuān)家通用型分析天平HR-150A 日本AND艾安得
天平專(zhuān)家通用型分析天平日本AND艾安得
電子天平一般采用應(yīng)變式傳感器、電容式傳感器、電磁平衡式傳感器，其中以電磁平衡式傳感器最為常用。其工作原理是當(dāng)秤盤(pán)上加上被稱(chēng)物時(shí)，傳感器的位置檢測(cè)器信號(hào)發(fā)生變化，并通過(guò)放大器反饋使傳感器線圈中的電流增大，該電流在恒定磁場(chǎng)中產(chǎn)生一個(gè)反饋力與所加載荷相平衡

產(chǎn)品型號(hào)：HR-150A

更新時(shí)間：2025-10-25

廠商性質(zhì)：代理商

訪問(wèn)量：187

產(chǎn)品咨詢(xún) 13537527788

產(chǎn)品分類(lèi)

PRODUCT CLASSIFICATION

相關(guān)文章

詳細(xì)介紹在線留言

天平專(zhuān)家通用型分析天平日本AND艾安得

超微量電子天平：最大稱(chēng)量是 2 至 5g，其標(biāo)尺分度值小于（最大）稱(chēng)量的 10-6，如 Mettler 的 UMT2 型電子天平等。
微量天平：稱(chēng)量一般在 3 至 50g，其分度值小于（最大）稱(chēng)量的 10-5，如 Mettler 的 AT21 型電子天平以及 Sartoruis 的 S4 型電子天平。
半微量天平：稱(chēng)量一般在 20 至 100g，其分度值小于（最大）稱(chēng)量的 10-5，如 Mettler 的 AE50 型電子天平和 Sartoruis 的 M25D 型電子天平等。
常量電子天平：最大稱(chēng)量一般在 100 至 200g，其分度值小于（最大）稱(chēng)量的 10-5，如 Mettler 的 AE200 型電子天平和 Sartoruis 的 A120S、A200S 型電子天平等。
分析天平：是常量天平、半微量天平、微量天平和超微量天平的總稱(chēng)。
精密電子天平：準(zhǔn)確度級(jí)別為 Ⅱ 級(jí)的電子天平的統(tǒng)稱(chēng)。

準(zhǔn)備工作：選擇合適量程和精度的電子天平，確保天平已經(jīng)校準(zhǔn)，清潔天平，將其放置在平穩(wěn)、無(wú)震動(dòng)、無(wú)氣流和恒溫的環(huán)境中，避免陽(yáng)光直射和強(qiáng)磁場(chǎng)干擾。
開(kāi)機(jī)和預(yù)熱：打開(kāi)天平電源，預(yù)熱一段時(shí)間，一般約 30 分鐘，以確保天平穩(wěn)定和準(zhǔn)確。
校準(zhǔn)：若天平未自動(dòng)校準(zhǔn)或環(huán)境條件變化較大，需手動(dòng)校準(zhǔn)天平，按照天平說(shuō)明書(shū)進(jìn)行校準(zhǔn)操作，使用標(biāo)準(zhǔn)砝碼進(jìn)行外校。
去皮：在稱(chēng)量物質(zhì)前，將空稱(chēng)量容器放在稱(chēng)量盤(pán)上，按下 “去皮" 按鈕，將顯示值歸零。
稱(chēng)量物質(zhì)：將待稱(chēng)量物質(zhì)緩慢放入稱(chēng)量容器中，避免物質(zhì)溢出或沾附在稱(chēng)量盤(pán)外部，讀取天平顯示的質(zhì)量值，并記錄結(jié)果，注意讀取時(shí)避免震動(dòng)和氣流干擾。
重復(fù)稱(chēng)量：如需多次稱(chēng)量相同物質(zhì)，重復(fù)去皮和稱(chēng)量步驟，確保每次稱(chēng)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
關(guān)機(jī)和清潔：稱(chēng)量完成后，關(guān)閉天平電源，用軟布或?qū)Ｓ盟⒆忧鍧嵎Q(chēng)量盤(pán)，確保天平干凈。

定期清潔：定期用軟布和專(zhuān)用清潔刷清潔天平和稱(chēng)量室，確保無(wú)灰塵和雜物。
檢查電源：定期檢查天平電源和電池，確保電源穩(wěn)定，避免因電源問(wèn)題導(dǎo)致天平工作不正常。
防護(hù)措施：使用天平防護(hù)罩保護(hù)天平，避免外部環(huán)境對(duì)天平的干擾。
專(zhuān)業(yè)維護(hù)：如發(fā)現(xiàn)天平故障或精度下降，應(yīng)聯(lián)系專(zhuān)業(yè)人員進(jìn)行檢修和維護(hù)。